科研系统快速原型数采验证与信号分析
「传统痛点：通道物理与调理配置繁琐、采集程序编写耗时、测试工程师编写算法门槛高。」
自然语言目标→
自动配置硬件→
自动采集信号→
生成信号处理算法→验证数据采集系统原型
自动辨识硬件通道属性，免去底层 DAQmx 繁杂配置 自动提取原始物理波形特征，自主生成信号调理算法与转速输出算法 一句话口令自主跑通“物理采样 ➔ 算法处理 ➔ 闭环调速”完整链路
现场实证
实例演示
从一句话目标到可追溯报告，每个 Demo 都跑在真实平台与真实 DUT 上。
测试用例生成：自动生成 MOSFET IV 曲线测试
「传统痛点：测试扫描流程设计复杂 · 参数不当测试极易烧毁核心器件与精密夹具 · 工艺数据面需要高度保密。」
智能体接收输入→
生成嵌套扫描用例→
写入安全边界→
双 SMU 自动执行→输出 IV 曲线
深度理解半导体测试特性，自动展开 VGS×VDS 嵌套参数扫描测试 安全边界包含器件额定值与夹具上限，毫秒级监控切断功率输出 基于本地 GPU 离线运行大模型，核心工艺数据全程本地流转
TestStand 序列生成：ECU 参考电压检测
「传统痛点：TestStand .seq 序列开发门槛高 · 物理 Pinmap 关系复杂 · 异常中止时通道状态易失控」
理解测试需求→
识别仪器资源/pinmap→
TestStand 序列自动生成→
Setup/Cleanup
从测试说明中自动识别测试需求、Pinmap 通道定义与限值边界 自动调用仪器驱动代码并生成序列，组合测试代码步骤单元形成测试序列 自动将上断电闭锁保护嵌入，保证断电安全
报告生成：生成可交付的专业测试报告
「传统痛点：多源测量数据人工排版复制效率低、易出错 · 通用大模型易产生幻觉· 输出需严格匹配格式 · 多种形式输出」
一句话发起→
解析并匹配模板→
自动校验修复→
一键交付
高度遵循官方模板要求，支持多种格式交付 引用数据强关联数据源，确保来源真实可靠 一句话发起报告任务，自动校验判定异常数据，即时高亮并辅助分析
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